Type Article Authors Raja P.V.; Raynaud C.; Sonneville C.; Eric N'Dohi A.J.; Morel H.; Phung L.V.; Ngo T.H.; De Mierry P.; Frayssinet E.; Maher H.; Tasselli J.; Isoird K.; Morancho F.; Cordier Y.; Planson D. Source title Microelectronics Journal DOI 10.1016/j.mejo.2022.105575 Publication Year 2022